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TEM lamella preparation ‒ CIME ‐ EPFL
Präparation einer TEM-Probe aus einem metallographischen Schliff
Forschung – Lehrstuhl für Materialkunde und Werkstoffprüfung
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FIB-Präparation und TEM-Analytik an AlSi1-Bondkontakten FIB Preparation and TEM Analytics on AlSi1 Bond Pads
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FIB - Focused Ion Beam - RWTH AACHEN UNIVERSITY GFE - Deutsch
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Anatomie - Zytologie
